хорошие новости! Teradyne завершила поставку 6000-й полупроводниковой тестовой системы J750
Сегодня (6) Teradyne объявила в Северном Рединге, штат Массачусетс, США, что испытательная машина для полупроводников серии J750 достигла 6000-й поставки. Как один из производителей тестов с самой большой установленной емкостью тестовой системы J750, Ardentec приветствовал 6000-ю тестовую систему Teradyne J750.
Что касается сотрудничества, Чи-Мин Чанг, вице-президент и президент Ardentec, сказал: «J750 является признанным решением на рынке микроконтроллеров». «Нулевой размер» J750 позволяет нам максимально использовать пространство для тестирования для увеличения емкости, а более высокая пропускная способность для нескольких площадок может снизить затраты на тестирование. Это удачное сочетание для любой тестовой среды, и мы рады принять этот груз, который важен для вехи Терадына ".
Тай Акин, вице-президент Teradyne по глобальным продажам, сказал: «Терида рада сотрудничеству с Ardentec для достижения этой важной вехи. С 2004 года Ardentec использует тестовую систему Teradyne J750 для удовлетворения меняющихся потребностей клиентов. Обладая широким спектром инструментов, J750 может обслуживать широкий спектр рыночных приложений и различных продуктов, включая MCU для автомобилей и приложений IoT. Несмотря на растущую сложность продукта и давление на рынок, программное обеспечение Teradyne IG-XL работает в сочетании с платформой J750. Операции по-прежнему могут эффективно снизить нагрузку на инжиниринг тестов и помочь нашим клиентам достичь наилучших результатов тестов, как и планировалось. "
Сообщается, что серия Teradyne J750 обеспечивает ведущие в мире решения для тестирования продуктов для автомобильных и потребительских приложений MCU, а также является мировым лидером в тестировании датчиков изображения. Интеграция недорогих продуктов продолжает расти и распространяется на датчики отпечатков пальцев, MEMS и продукты Интернета вещей (IoT) с беспроводными возможностями MCU. Масштабируемость тестовой системы J750 делает ее идеальным выбором для таких продуктов.
Кроме того, серия Teradyne J750 является отраслевым стандартом качества тестирования, эффективно помогая производителям полупроводников достичь целей без дефектов и пропускной способности для нескольких площадок. Установленная емкость тестовой системы J750 в настоящее время превысила 6000 единиц и широко используется в более чем 50 OSAT, что может обеспечить полное решение массового производства для тестирования пластин и окончательного тестирования.
Что касается сотрудничества, Чи-Мин Чанг, вице-президент и президент Ardentec, сказал: «J750 является признанным решением на рынке микроконтроллеров». «Нулевой размер» J750 позволяет нам максимально использовать пространство для тестирования для увеличения емкости, а более высокая пропускная способность для нескольких площадок может снизить затраты на тестирование. Это удачное сочетание для любой тестовой среды, и мы рады принять этот груз, который важен для вехи Терадына ".
Тай Акин, вице-президент Teradyne по глобальным продажам, сказал: «Терида рада сотрудничеству с Ardentec для достижения этой важной вехи. С 2004 года Ardentec использует тестовую систему Teradyne J750 для удовлетворения меняющихся потребностей клиентов. Обладая широким спектром инструментов, J750 может обслуживать широкий спектр рыночных приложений и различных продуктов, включая MCU для автомобилей и приложений IoT. Несмотря на растущую сложность продукта и давление на рынок, программное обеспечение Teradyne IG-XL работает в сочетании с платформой J750. Операции по-прежнему могут эффективно снизить нагрузку на инжиниринг тестов и помочь нашим клиентам достичь наилучших результатов тестов, как и планировалось. "
Сообщается, что серия Teradyne J750 обеспечивает ведущие в мире решения для тестирования продуктов для автомобильных и потребительских приложений MCU, а также является мировым лидером в тестировании датчиков изображения. Интеграция недорогих продуктов продолжает расти и распространяется на датчики отпечатков пальцев, MEMS и продукты Интернета вещей (IoT) с беспроводными возможностями MCU. Масштабируемость тестовой системы J750 делает ее идеальным выбором для таких продуктов.
Кроме того, серия Teradyne J750 является отраслевым стандартом качества тестирования, эффективно помогая производителям полупроводников достичь целей без дефектов и пропускной способности для нескольких площадок. Установленная емкость тестовой системы J750 в настоящее время превысила 6000 единиц и широко используется в более чем 50 OSAT, что может обеспечить полное решение массового производства для тестирования пластин и окончательного тестирования.